Sensorsysteme für die Oberflächenprüfung
Year of publication: |
1994
|
---|---|
Authors: | Keferstein, Claus P. ; Stein, Friedrich |
Published in: |
Maschinenmarkt : MM ; das Industriemagazin. - Würzburg : Vogel Business Media, ISSN 0025-4509, ZDB-ID 2408673. - Vol. 100.1994, 25, p. 68-73
|
Saved in:
Saved in favorites
Similar items by person
-
Projektmanagement für die Produktentwicklung : Organisation - Strategien - Erfolgsfaktoren
Stein, Friedrich, (2004)
-
Stein, Friedrich, (1987)
-
Stein, Friedrich, (1990)
- More ...